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ESD敏感器件(如集成電路、傳感器芯片)對靜電極為敏感，哪怕微弱的靜電放電都可能造成內部電路損壞，引發(fā)設備故障。抗靜電能力測試系統(tǒng)通過科學模擬靜電場景，成為驗證這類器件防護性能的核心工具，為電子產業(yè)鏈的質量安全保駕護航。?在測試方式上，系統(tǒng)需兼顧接觸放電與空氣放電兩種核心場景。接觸放電模擬人體直接觸碰器件時的靜電釋放，測試電壓需精準覆蓋±2kV至±30kV，能清晰記錄器件在不同電壓下的耐壓極限，比如某類芯片在15kV接觸放電后是否出現邏輯功能紊亂。...

2025-06-26

在現代科技高度發(fā)達的時代，靜電問題對電子設備的破壞性日益凸顯。因此，抗靜電能力測試系統(tǒng)成為了確保電子產品安全可靠運行的關鍵環(huán)節(jié)?？轨o電能力測試系統(tǒng)的核心原理是通過模擬實際靜電放電情況，評估電子產品的抗靜電能力。這一過程主要依賴于靜電放電模擬器（ESDSimulator）來實現。1、靜電放電模擬：靜電放電模擬器采用電容放電的原理，在被測產品與模擬器之間建立電容。通過模擬人體接觸到產品時可能產生的靜電放電，來評估產品的抗靜電能力。靜電放電模擬通常包括人體放電模式和設備放電模式，以...

2025-03-18

在半導體產業(yè)蓬勃發(fā)展的今天，靜電放電（ESD）對半導體器件的潛在威脅不容忽視。晶圓級ESD測試儀作為檢測和評估ESD防護能力的關鍵設備，正發(fā)揮著至關重要的作用。半導體制造過程非常復雜且精細，從晶圓制造到芯片封裝，每一步都可能受到ESD的影響。ESD產生的瞬間高壓和大電流，可能會擊穿半導體器件內部的微小結構，導致器件性能下降甚至失效。據統(tǒng)計，因ESD造成的半導體產品損失占總損失的相當比例，因此精確檢測和控制ESD至關重要。晶圓級ESD測試儀能夠在晶圓階段對ESD防護結構進行全面...

2025-01-17

隨著半導體技術的不斷進步，尤其是集成電路(IC)的復雜度不斷提高，器件的可靠性和性能測試變得愈加重要。ES622系列TLP脈沖IV曲線系統(tǒng)成為一種關鍵的測試工具，用于評估半導體器件在瞬態(tài)電流脈沖作用下的響應。本文將介紹TLP脈沖IV曲線系統(tǒng)在半導體器件中的應用，以及其在器件可靠性評估中的重要作用。TLP脈沖IV測試原理TLP脈沖IV曲線系統(tǒng)通過施加瞬態(tài)電流脈沖（通常是短時間的高電流脈沖）來模擬器件在實際工作環(huán)境中可能遇到的極端情況。該系統(tǒng)測量半導體器件在受到脈沖電流作用時的電...

2024-12-18

在集成電路(IC)和其他微電子器件制造過程中，靜電放電(ESD)是導致產品缺陷和失效的一個主要因素。因此，利用專業(yè)的芯片靜電測試設備來檢測和驗證IC對靜電的承受能力變得至關重要。這類設備不僅能幫助工程師們識別薄弱環(huán)節(jié)，還能促進產品設計和工藝的不斷改進，以提升整體可靠性。靜電測試的目的1.質量控制：確保每一批次產品的靜電防護達到預定標準。2.故障分析：確定ESD事件對芯片的影響，追蹤根本原因。3.合規(guī)性驗證：滿足國內外相關標準的要求，如IEC61000-4-2（人體模型）和MI...

2024-11-20

高壓脈沖發(fā)生器的主要應用：搭配二極管和電容注入探頭進行ESD電流注入搭配場探頭或TEMCell進行E＆H場注入用于晶圓，PCB，系統(tǒng)級ESD調試（TLP通用方法）觸摸屏的ITO熔斷和故障測試充電恢復時間測試元件的ESD脈沖可靠性測試工作原理：1、高壓直流電源高壓直流電源的作用是將從電網輸入的交流電整流再逆變成高壓交流電，然后經過整流變成高壓直流電。其主要由整流、功率因數校正、逆變、變壓器升壓和倍壓整流組成。2、高壓脈沖波形研究設計的高壓脈沖發(fā)生器產生的脈沖波形主要有方波、指數...

2024-11-08